Электронная почта: info@analytexpert.ru
Телефон/факс:
+7 (495) 981-66-86 многоканальный
Для регионов:
8 800 333-78-66 звонок бесплатный
КАТАЛОГ
ОБОРУДОВАНИЯ
ОТРАСЛЕВЫЕ
РЕШЕНИЯ
ПРОИЗВОДИТЕЛИ
И ПАРТНЕРЫ
СЕРВИСНЫЙ
ЦЕНТР

УФ-Вид-БлИК спектрофотометр UV-3600 Plus

Производитель: Shimadzu (Япония)

Высокочувствительный спектрофотометр для работы в УФ, видимом и ближнем ИК-диапазоне

Особенности спектрофотометра UV-3600 Plus

Высокая чувствительность. Компания Shimadzu разработала уникальный спектрофотометр для работы в УФ, видимом и ближнем ИК-диапазоне спектра. Спектрофотометр UV-3600 Plus оснащен тремя детекторами: ФЭУ для работы в ультрафиолетовой и видимой области спектра, полупроводниковый InGaAs и охлаждаемый PbS детекторы для работы в ближнем ИК-диапазоне. Для обычных спектрофотометров, имеющих только два типа детекторов (ФЭУ и PbS), характерна потеря чувствительности в области перехода от видимой области спектра к ИК-диапазону. В случае UV-3600 Plus, благодаря наличию InGaAs детектора, обеспечивается высокая чувствительность во всем рабочем диапазоне, а уровень шума не превышает 0,00003 Abs при 1500 нм. В дополнение к основному блоку спектрофотометра многоцелевое кюветное отделение, предназначенное для работы с образцами больших размеров, а также интегрирующая сфера оснащены тремя детекторами, что позволяет с высокой чувствительностью проводить измерение твердых образцов.

Высокое разрешение, крайне низкий уровень рассеянного света, широкий спектральный диапазон. Высокопроизводительная оптика прибора позволяет достичь ультра-низкого уровня рассеянного света (макс. 0,00005 % при 340 нм) с высоким разрешением (максимальное разрешение: 0,1 нм). Широкий спектральный диапазон от 185 до 3300 нм позволяет работать не только в УФ и видимом диапазонах спектра, но и в ближнем ИК-диапазоне, и как результат, открывает возможности по решению широкого круга задач.

Большой выбор дополнительных аксессуаров. Многофункциональное кюветное отделение с тремя детекторами и интегрирующая сфера позволяют проводить высокочувствительные измерения твердых образцов. Приставки абсолютного зеркального отражения ASR-серии предназначены для получения высокоточных результатов измерения коэффициента отражения. В дополнение ко всему вышеперечисленному, доступны разнообразные держатели для микрокювет и держатели с возможностью регулирования температуры, что позволяет использовать спектрофотометр в разнообразных областях. 

Широкие возможности применения

Измерение коэффициента пропускания объективов и линз. Tакие устройства как мобильные телефоны, цифровые камеры и камеры слежения оснащены разнообразными объективами и линзами. Коэффициент пропускания линзы является одним из факторов, который определяет характеристики объектива. Однако, поскольку линза сама фокусирует свет, то представляет собой очень сложный образец для проведения измерений и получения достоверных результатов.
Наличие у линзы фокальной плоскости приводит к тому, что свет, проходящий в спектрофотометре при измерении базовой линии, может отличаться от света, прошедшего через линзу во время измерения из-за рефракции.
В таких случаях, для более точных измерений рекомендуется работать с интегрирующей сферой, которая позволяет собрать весь свет, проходящий через линзу. Помимо этого, использование интегрирующей сферы, работающей в режиме пропускания, в комплекте с устройством BIS-603, способствует уменьшению ошибок измерений. Кроме того, с помощью V-образной платформы, входящей в стандартную комплектацию многофункционального кюветного отделения MPC-603, можно проводить измерения коэффициента пропускания линз различной длины и размеров. Как результат, MPC-603 и BIS-603 являются идеальным сочетанием для анализа линз и объективов.

http://www.shimadzu.ru/sites/default/files/sites/files/uv3600plus_2-rus.jpg

Опциональные приставки, используемые для проведения измерений

Многофункциональное кюветное отделение для работы с образцами больших размеров MPC-603

Платформа BIS-603

http://www.shimadzu.ru/sites/default/files/sites/files/uv3600plus_3.jpg

Многоцелевое кюветное отделение позволяет измерять образцы различной формы и получать как спектры отражения, так и пропускания. С целью обеспечения точности измерений твердых образцов интегрирующая сфера встроена в это кюветное отделение.

http://www.shimadzu.ru/sites/default/files/sites/files/uv3600plus_4.jpg

Это устройство используется для установки приставок абсолютного зеркального отражения в многоцелевое кюветное отделение MPC-603.

 

Определение ширины запрещенной зоны

Исследование солнечных элементов и фотокаталитических материалов зачастую включает в себя измерение ширины запрещенной зоны, которая является одной из основных физических характеристик материалов. Ниже приведены спектры диффузного отражения трех полупроводниковых материалов, используемых при производстве солнечных батарей, полученные с помощью интегрирующей сферы ISR-603. Края поглощения, где длина волны отражения уменьшается, различаются в зависимости от типа образца. Эти различия указывают на разницу ширины запрещенной зоны* образцов. Значения ширины запрещенной зоны образцов рассчитаны с помощью метода Тауца и были определены как 1,63 эВ для GuGaSe2 (красная линия) 1,27 эВ для Culn0.5Ga0.5Se2 (синяя линия) и 0,99 эВ для CuInSe2 (черная линия). 

* Ширина запрещенной зоны представляет собой разность энергий между верхней валентной зоной, заполненной электронами, и дном зоны проводимости, лишенного электронов.Диапазон длин волн спектрофотометра UV-3600 Plus является чрезвычайно эффективным для расчета ширины запрещенной зоны. 
* Образцы любезно предоставлены лабораторией WADA, факультет науки и технологии университета Ryukoku.

http://www.shimadzu.ru/sites/default/files/sites/files/uv3600plus_5.jpg

Образец

Ширина запрещенной зоны

CuGaSe2

1,63 эВ (757 нм)

Culn0.5Ga0.5Se2

1,27 эВ (977 нм)

CuInSe2

0,99 эВ (1253 нм)

Опциональные приставки, используемые для проведения измерений

Программа Excel Macro для расчета величины ширины запрещенной зоны

http://www.shimadzu.ru/sites/default/files/sites/files/uv3600plus_6.jpg

 Интегрирующая сфера ISR-603

http://www.shimadzu.ru/sites/default/files/sites/files/uv3600plus_7.jpg

Интегрирующая сфера с диаметром 60 мм используется для измерения спектров диффузного и зеркального отражения, а также спектров пропускания твердых и жидких образцов.

Опции

Дополнительное программное обеспечение

  • ПО DTL-UVPC для измерения пропускания солнечного света
  • ПО для измерения цветности
  • ПО для измерения толщины пленок

Дополнительные аксессуары 

Гид по аксессуарам для УФ-анализа жидких и твердых проб

Похожие модели
Недавно просмотренные товары